发布日期:2011年01月18日
举办时间 | 11 月20-26日 |
举办地点 | 台湾省台北市 |
主要议题 | 光测技术和应用:光弹性法、云纹法、散斑法、宏微观形貌检测技术及应用 无损检测技术和应用:应变片测量技术、光纤传感器技术、声测量技术、磁测量技术,无损检测技术在工程结构测量的应用 微器件和纳米技术:微 / 纳尺度器件中的力学测试问题、高分辨率下的力学测试技术及应用、电子封装中的力学测试问题,微 / 纳米力学测试系统 混合法:数值模拟与实验测试的杂交法与参数识别 |
参加人数 | 40 |
会议负责人 | 亢一澜 / 谢惠民 |
承办单位 | 台北科技大学 |
联系人 | 谢惠民 |
联系地址 | 清华大学航天航空学院, 100084 |
联系电话 | 010-6278 2286 |
电子邮箱 | xiehm@tsinghua.eud.cn |
会议通知 | 点击查看会议通知 |
会议纪要 | 点击查看会议纪要 |
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